ASTM F 77-1969 电子器件及半导体设备用陶瓷表观密度的试验方法

作者:标准资料网时间:2024-05-15 08:35:15 浏览:8861 来源:标准资料网

【英文标准名称】:TestMethodforApparentDensityofCeramicsforElectronDeviceandSemiconductorApplication
【原文标准名称】:电子器件及半导体设备用陶瓷表观密度的试验方法
【标准号】:ASTMF77-1969
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1969
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:陶瓷;试验;密度;电子设备及元件;设备;电子工程;半导体
【英文主题词】:electronicequipmentandcomponents;semiconductors;equipment;testing;electronicengineering;density;ceramics
【摘要】:
【中国标准分类号】:L18;L10
【国际标准分类号】:81_060_10
【页数】:2P;A4
【正文语种】:英语

下载地址: 点击此处下载

返回跳至顶部

上一篇: ANSI/API Bull11L 2-1969 模拟计算机功率计卡片的目录
下一篇: DIN 45667-1969 随机振动评价的分类方法